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Untersuchungen zum Teilentladungsverhalten von Hochspannungselektroden mit Hilfe einer UV-Kamera

  • Die vorliegende Arbeit beschäftigt sich mit der Erfassung von Teilentladungen an Hoch-spannungselektroden mittels einer UV-Kamera. Hauptziel war es, durch Messungen an Hochspannungsprüfanlagen gezielt Teilentladungen zu lokalisieren, um so Design-, Qualitäts- oder Montagemängel festzustellen. Bisher galt die Lokalisierung von Teilentladungen als schwierig und zeitaufwendig. Die UV-Kamera stellt nunmehr eine Ergänzung zu den herkömmlichen Messsystemen von Teilentladungen dar. Die theoretischen Gesetzmäßigkeiten und die Ergebnisse dieser Diplomarbeit erlangen Bedeutung, indem sie unerlässliche und aussagekräftige Grundlagen für zukünftige Messungen mit der UV-Kamera sind.

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Metadaten
Author:Tino Mauersberger
Advisor:Gerhard Thiem, Ralf Pietsch
Document Type:Diploma Thesis
Language:German
Year of Completion:2010
Granting Institution:Hochschule Mittweida
Release Date:2016/01/05
GND Keyword:Hochspannungsanlage , Teilentladung
Institutes:01 Elektro- und Informationstechnik
Open Access:Innerhalb der Hochschule
Licence (German):License LogoUrheberrechtlich geschützt